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X-Max Extreme 硅漂移探测器(SDD)-无窗超级能谱

tel: 400-6699-117 2002

牛津仪器X射线能谱仪(EDS), X-Max Extreme全新硅漂移探测器是能谱探测器领域的又一突破,为超高分辨率FEG-SEM的应用及超越常规的微米和......

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为了实现这种独特的几何设计,X-MaxExtreme非圆形100平方毫米传感器和无窗的设计已经成功地用于X-MaxN 100TLE,以优化TEM中的灵敏度。除了探测器特性之外,小尺寸电子陷阱设计使得探测器可以在7kV电压下工作。


  • SEM中优于10nm元素表征

  • x射线图图像分辨率接近SEM分辨率



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电话:400-6699-117 转 2002

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