参数:
基本参数:
型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)
测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
X射线源:管电压:45 kV
FT150:Mo靶 FT150h:W靶 FT150L:Mo靶
检测器:Si半导体检测器(SDD)(无需液氮)
X射线聚光:聚光导管方式
样品观察:CCD摄像头(100万像素)
对焦:激光对焦、自动对焦
zei大样品尺寸:FT150:400(W)×300(D)×100(H)mm
FT150h:400(W)×300(D)×100(H)mm
FT150L:600(W)×600(D)×20(H) mm
工作台行程:FT150:400(W)×300(D)
FT150h:mm400(W)×300(D)
FT150L:mm300(W)×300(D) mm
操作系统:电脑、22英寸液晶显示屏
测量软件:薄膜FP法(zei多5层膜、10元素)、检量线法、定性分析
数据处理:Microsoft Excel、Microsoft Word 安装
安全功能:样品门联锁
消耗电量:300 VA以下
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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