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日立X射线荧光测厚仪, 自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。 通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。
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