X
您需要的产品资料:
选型配置
产品样品
使用说明
应用方案
公司录用
其他
个人信息:
提交

您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> 扫描电镜SEM>> 日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000

日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2000

tel: 400-6699-117 1000

日立扫描电镜SEM, 追求最完美的TEM样品制备工具 在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。......

在线客服


项目内容
FIB镜筒
分辨率4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV
加速电压0.5~30 kV
束流0.05 pA ~ 100 nA
FE-SEM镜筒
分辨率2.8 nm @ 5 kV、3.5 nm @ 1 kV
加速电压0.5~30 kV
电子枪冷场场发射型
探测器
標準検出器In-lens 二次电子探测器/样品室二次电子探测器/背散射电子探测器
样品台X:0 ~ 205 mm
Y:0 ~ 205 mm
Z:0 ~ 10 mm
R:0 ~ 360°连续
T:-5 ~ 60°



厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转 1000

经销商

售后服务

我会维修/培训/做方法

如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。

1该产品的品牌知名度如何?
2你对该产品的使用感受如何?
3该产品的性价比如何?
4该产品的售务如何?
查看
在线咨询

在线咨询时间:

周一至周五

早9:00 - 晚17:30

若您在周六周日咨询,请直接留言您所咨询的产品名称+联系人+电话