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新一代便携式超快高精度X射线残余应力分析仪(μ-x360n)

tel: 400-6699-117 1000

PulstecX射线应力分析仪, u-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,这款无损检测设备一经推出受到了业界的广泛关注和接受,总体说来它比传统方法具有如下优点: 更快: 二维探测器获取完整德拜环,单角度一次入射测量即可完成测量,全过程平均约90秒更精确:一次测量zei多可获得500个数据点,用于拟合计算应力更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难更方便:测量精度高, 无需冷却水、野外工作无需外部供电更强大:有区域应力分布测量成像(Mapping)功能,软件有晶粒大小、材料织构、残余奥氏体信息分析功能

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