X射线残余应力分析仪
tel: 400-6699-117 转 5043Stresstech OyX射线应力分析仪, X射线残余应力分析仪软件 ◆ 操作系统: Windows◆ X射线的发生和控制◆ 实时监控高压系统◆ 多种X射线曝光模式......
在线客服
产品型号:Stress
品牌:Stresstech Oy
产品产地:芬兰
产品类型:进口
原制造商:Stresstech Oy
状态:在售
厂商指导价格: 100~200万元[人民币]
上市时间: 2014-04-13
英文名称:Stress
优点:X射线残余应力分析仪软件 ◆ 操作系统: Windows◆ X射线的发生和控制◆ 实时监控高压系统◆ 多种X射线曝光模式◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作◆ 多点d-sin²Ψ曝光模式,互相关法计算峰位移◆ 丰富的材料数据库◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内
参考成交价格: 100~200万元[人民币]
仪器导购
X射线应力分析仪
其他推荐
厂家资料
地址:北京市海淀区西三环北路72号世纪经贸大厦B座1808室
电话:400-6699-117 转 5043
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 X射线残余应力分析仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- DS/EN 15305/AC:2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
- DS/EN 15305:2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
- LST EN 15305-2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
- LST EN 15305-2008/AC-2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
- UNE-EN 15305:2010 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
- SAE J784A-1971 通过 X 射线衍射测量残余应力
- SAE J784-1971 通过 X 射线衍射测量残余应力
- NF A09-185*NF EN 15305:2009 无损检测.用X射线衍射对残余应力分析的试验方法
- DIN EN 15305:2009 无损检测.X射线衍射法对残余应力分析用试验方法
- DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 无损检验 使用X射线衍射法进行分析残余应力分析的试验方法