产品名称: | DOI(金刚石薄膜Diamond?on?Oxide) |
技术参数: | 基底尺寸:dia4“x0.5mm Si晶向:<100>±0.5° 绝缘层:SiO2 薄膜厚度:2um 氧化层:1um 电阻率:10E3 ~ 10E4 ohm-cm
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标准包装: | 1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒 |
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