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日立高新FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪FT9400 FT9450 FT9455

tel: 400-6699-117 1000

日立X射线荧光测厚仪, 高精度、自动对焦......

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可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)

X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 
                   管电压: 50kV 管电流: 1.5mA Be 窗

滤波器:一次滤波器:Mo

照射方式:上方垂直照射方式

检测器:比例计数管+半导体检测(无需液氮)

准直器:圆形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm

安全性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能

样品图像对焦方式:激光自动对焦

样品观察:彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明

样品平台大小及承重:    FT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg 
                                               FT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg 
                                               FT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg

重量:FT9400/SFT9450:125kg (不含电脑) 
             FT9455:130kg(不含电脑)

修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正

测量报告书制作:配备MS-EXCEL MS-WORD(使用宏支持自动制作测量报告书) 
                                  测量能谱与样品图像保存功能


技术参数:

型号FT9400FT9450FT9455
测量元素原子序号Ti(22)~Bi(83)
原子序号21以下的元素可通过吸收法测量
X射线源空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 μA
检测器比例计数管+半导体检测器(无需液氮)
准直器4种类(0.015, 0.05, 0.1, 0.2 mmφ)
X射线聚光激光对焦
滤波器一次滤波器: Mo-自动切换
样品区域X:240 mm, Y:170 mm
X:220 mm, Y:150 mm, Z:150 mm
X:420 mm, Y:330 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm
X:700 mm, Y:600 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm
测量软件薄膜FP法(zei大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析)
安全功能样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能

厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转 1000

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