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您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)>> 日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪

日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪

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日立X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), http://www.antpedia.com/admin/productadmin/addproduct_p_2.php?pid= 173103

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    FT110可降低成本如下:

    ˙节省材料费,
    全球资源紧缺已是大势所趋,企业的材料费也是节节攀高;尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨,比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元,以印刷电路板厂每年产量几十万套为例,根据业界经验如果能更好控制镀层厚度,企业每年可节约上千万的费用。

    ˙减少工期(作业人工)
    通过X射线仪来评价,管理产品可以轻松知晓产品能发挥最大功能时的最小镀层厚度,从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。

    ˙减少修理,修补等产生的制作费用
    通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题,以及后续的返工造成的费用。


    基本规格

    测量元素

    原子序号22(Ti)~83(Bi)

    镀层测试软件

    薄膜FP法

    X射线管

    管电压:50KV 管电流:1mA

    薄膜检量线法


    检测器

    比例计数管

    测量功能

    自动测量、中心搜索

    准直器

    0.1mmΦ, 0.2mmΦ

    定性功能

    KL标记线、对比显示

    影像窗口

    CCD摄像机(带倍率放大功能)

    安全功能

    样品门安全防护机构

    X-ray Station

    计算机+19英寸液晶显示器

    使用电源

    100~240V/15A

    样品台移动量

    250(X)×200(Y)mm

    样品最大高度

    150mm


    厂家资料

    地址:河北省沧州市经济技术开发区198号

    电话:400-6699-117 转 1000

    经销商

    售后服务

    我会维修/培训/做方法

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