热膨胀系数分析仪技术参数
型号 | TEA-300 | TEA1200 | TEA-1800 |
温度范围 | RT~300℃ | RT~1200℃ | RT~1800℃ |
程序升温重复性偏差 | <1.0% | ||
程序升温速率偏差 | <1.0% | ||
热膨胀系数测量精密度偏差 | <4.5% | ||
热膨胀系数测量正确度偏差 | <±15% | ||
最大工作功率 | 4.0kw | ||
最大升温速度 | 50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N?氛围) | ||
温度一致性 | ±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N?) | ||
制冷要求 | 水冷 | ||
热膨胀分辨率 | 266nm |
热膨胀系数分析仪样品要求
●尺寸:长×宽5x5~20x20mm2,厚度2.0mm(含基底)以下为宜
●适用于透光材料的热膨胀系数检测
●具备光学反射双平面
●检测样品的热膨胀量≥266nm
热膨胀系数分析仪测试原理
1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品
5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器
光路原理图
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面,产生反射光,同时投射光照射到下表面也产生一束反射光,两束反射光在光电探测器处发生干涉,反射光功率发生周期性变化,得到光功率随材料温度的变化曲线,通过计算得到热膨胀系数。
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