Namicro-3LT采用动态法(具有zl技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
热电参数测试系统产品特点
● 拥有独立知识产权,获得多项技术zl。
● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确。
● 热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
● 炉壳过温报警,自动断电保护。
● 友好的软件界面,操作简单,实时显示采集数据、测试状态和结果,采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统技术参数
热电参数测试系统样品要求
块体:具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖,需对样品表面抛光,使材料裸露出来,保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差,测量样品两端热电势变化,温差?T和热电势之间呈线性关系,其斜率即为seebeck系数。
四探针法
即四点接触法,电流的路径如右图所示,但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法,四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准,因而测量精度更高。
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