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光谱椭偏仪

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沈阳科晶椭偏仪, SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,采用行业前沿创新技术,配置全自动Mapping测量模块,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。SE-Mapping光谱椭偏仪广泛应用OLED,LED,光伏,集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

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技术特点

【技术特点】-- 光谱椭偏仪

产品简介:SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,采用行业前沿创新技术,配置全自动Mapping测量模块,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。SE-Mapping光谱椭偏仪广泛应用OLED,LED,光伏,集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

 

产品型号

SE-Mapping光谱椭偏仪


主要特点

1、全基片椭偏绘制化测量解决方案

2、支持产品设计以及功能模块定制化,一键绘制测量

3、配置Mapping模块,全基片自定义多点定位测量能力

4、丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力

5、采用氘灯和卤素灯复合光源,光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)

6、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集

7、具备全基片自定义多点自动定位测量能力,提供全面膜厚检测分析报告

8、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料


可选配件

3

真空泵

4

透射吸附组件





【技术特点对用户带来的好处】-- 光谱椭偏仪


【典型应用举例】-- 光谱椭偏仪



厂家资料

地址:沈阳市浑南新区学风路26-2-7号5门 精密仪器工业园

电话:400-6699-117 转 7739

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