技术特点
【技术特点】-- 德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
SENDIRA红外光谱椭偏仪,振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。
椭偏振动光谱
利用红外光谱中分子振动模的吸收带,可以分析薄膜的组成。此外,载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。
傅立叶红外光谱仪FTIR完全适用
集成赛默飞世尔Thermo Fisher制造的型号FTIR iS50红外光谱仪。它也适用于一般的振动光谱。
光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度,折射率,消光系数以及体材料,单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的,现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。
【技术特点对用户带来的好处】-- 德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
【典型应用举例】-- 德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
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