技术参数:
型号:EDX3600K
X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:10秒以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器zei低至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下
滤光片:6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,zei低检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
仪器配置:
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
zei先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
经销商
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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