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颗粒取样器 PARTECTOR TEM

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厦门通创TSP/颗粒物采样器, naneos partector TEM采样器是简单性与功耗之间的完美结合:您可以将其用作简单的调查工具,以快速识别工作场所中的纳米粒子源。 您也可以使用它来直接对标准透射电子显微镜(TEM)网格进行颗粒采样。 TEM是单粒子分析中最强大的分析技术。

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技术特点

【技术特点】-- 颗粒取样器 PARTECTOR TEM

颗粒物取样器PARTECTOR TEM

——使电子显微镜的取样颗粒变得更容易

 


颗粒物取样器-优点:

naneos partector TEM采样器是简单性与功耗之间的完美结合:您可以将其用作简单的调查工具,以快速识别工作场所中的纳米粒子源。 您也可以使用它来直接对标准透射电子显微镜(TEM)网格进行颗粒采样。 TEM是单粒子分析中最强大的分析技术。 颗粒取样器TEM可以让您仅仅使用一台仪器就能全面评估工作场所安全。 颗粒取样器TEM是唯一可以在线确定样本覆盖范围的纳米粒子采样器,并在达到最佳覆盖范围时停止采样。 你永远不会有空的或重载的样品。

与传统纳米粒子取样器相比,颗粒取样器TEM的6个主要优点是:

1.微型和轻量级;

2.易于使用的按钮式采样;

3.综合测量,先调查,必要时直接抽样;

4.TEM网格可以在6个网格支架上轻松地进行现场交换;

5.自动确定最佳采样时间 - 因为它测量纳米颗粒浓度,所以知道何时停止采样;

6.在线显示当前样品的覆盖范围;






【技术特点对用户带来的好处】-- 颗粒取样器 PARTECTOR TEM


【典型应用举例】-- 颗粒取样器 PARTECTOR TEM



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