厦门通创TSP/颗粒物采样器, naneos partector TEM采样器是简单性与功耗之间的完美结合：您可以将其用作简单的调查工具，以快速识别工作场所中的纳米粒子源。 您也可以使用它来直接对标准透射电子显微镜（TEM）网格进行颗粒采样。 TEM是单粒子分析中最强大的分析技术。