技术特点
【技术特点】-- 纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
薄膜材料的热导率评价将变得极为简便
1. 在纳米尺度衡量薄膜的热导率
开发出监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法。从而通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化,极为简便的衡量厚度方向上热导率。(日本zl:5426115)
2. 样品制备简单
不需要光刻技术即可将金属薄膜(1.7mm×15mm×100nm)沉积在薄膜样品上。
【技术特点对用户带来的好处】-- 纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
【典型应用举例】-- 纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω
请扫描二维码查看详细参数
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。