薄膜介质损耗测试仪
tel: 400-6699-117 转 9797智德创新介电常数测定仪, 薄膜介质损耗测试仪采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q 值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q 表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。
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产品型号: ZJD-B介质损耗测试仪
品牌:智德创新
产品产地:北京
产品类型:国产
原制造商:智德创新
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2016-04-03
英文名称: ZJD-B介质损耗测试仪
优点: 薄膜介质损耗测试仪采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q 值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q 表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。
参考成交价格: 5~10万元[人民币]
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介电常数测定仪
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地址:北京市怀柔区桥梓镇兴桥大街1号南楼
电话:400-6699-117 转 9797
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