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膜厚仪

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阿尔派白光干涉测厚仪, 膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

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膜厚仪

  • 阿尔派  NanoMap-1000WLI(0)
  • 阿尔派  NanoMap-1000WLI(0)

产品型号: NanoMap-1000WLI(0)

品牌:阿尔派

产品产地:美国

产品类型:进口

原制造商:阿尔派

状态:在售

厂商指导价格:未提供

上市时间: 2015-04-28

英文名称: NanoMap-1000WLI(0)

优点:膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。

参考成交价格: 2~5万元[人民币]

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    地址:北京市海淀区三虎桥南路17号院(北院)6号楼206房间

    电话:400-6699-117 转 1000

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