日立荧光分布成像系统EEM View
tel: 400-6699-117 转 1000日立分子荧光光谱/荧光分光光度计, 作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
咨询留言
产品型号:EEM View
品牌:日立
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:日立
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2019-10-25
英文名称:EEM® View -CMOS camera imaging system
优点:作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
参考成交价格: 30~50万元[人民币]
分子荧光光谱/荧光分光光度计
其他推荐
厂家资料
地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 日立荧光分布成像系统EEM View 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 13962-1992 光学仪器术语
- T/CBJ 2203-2019 白酒年份酒的荧光光谱测定方法
- GB/T 5838.1-2015 荧光粉 第1部分:术语
- GA/T 242-2000 微量物证的理化检验术语
- T/GDMDMA 0006-2021 医用内窥镜 内窥镜功能供给装置 近红外荧光摄像系统
- T/CSTM 00197-2021 石墨烯量子点 蓝光发射相对荧光量子产率测定 分子荧光光谱法
- NY/T 2474-2013 黄瓜品种鉴定技术规程 SSR分子标记法
- GA/T 1196-2014 法庭科学全波段CCD数码物证照相规范
- GB/T 19267.8-2008 刑事技术微量物证的理化检验.第8部分:显微分光光度法
- GA/T 1195-2014 法庭科学滤光镜型光谱成像方法