【技术特点】-- 日立荧光分布成像系统EEM View

荧光分布成像系统采用全新设计，可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1，不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像，还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。

• *1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果。

• *“EEM”是日立高新技术科学公司在中国和日本的注册商标

什么是EEM View

新技术可同时获得荧光 · 反射图像和光谱

• 测定样品的光谱数据（反射光谱、荧光光谱）

• 在不同光源条件（白光和单色光）下拍摄样品
  　（区域:Φ20 mm、波长范围:380~700 nm）

• 采用AI光谱图像处理算法＊1，能够分别显示样品荧光图像和反射图像

• 根据图像可获得不同区域的光谱信息＊1（荧光光谱、反射光谱）

• *1

• 计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果

EEM View Analysis 界面（样品：LED电路板）

荧光分布成像系统概要

均匀的光源系统

同时获取样品的荧光 · 反射图像和光谱！

• 积分球漫反射使光源均匀化

• 利用积分球收集的光均匀照射样品

• 采用荧光检测器和CMOS相机双检测模式

新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品，利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。

样品安装简单，适用于各种样品测试！

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

• 板状样品：通过石英窗安装样品。

• 粉末样品：将粉末填充至样品平整夹具中，置于粉末样品池支架，或使用选配件固体样品支架中的粉末样品池安装样品。

• 校正时，需放置好荧光标准样品。

• 请使用选配的标准白板(100 %)和空白样品(0 %)进行校正。此校正工具可被应用于荧光强度、反射率校正， 以及图像不同区域的亮度分布校正。

应用数据

【应用实例】微结构材料的荧光特性和结构确认

为了提高可视性，我们测量了具有精细结构的荧光反射片。

同时获得光谱数据和样品图像

对样品照射360 nm～700 nm范围内的单色光以及白光。此时，可获得不同光源条件下的图像，同时通过荧光检测器可获得荧光光谱。测定完成后，可以查看样品的三维荧光光谱（激发波长、发射波长、荧光强度）。在专用分析软件中，可对图像进行放大，从而显示不同区域的荧光 · 反射光谱。因此能够确认光学性能分布不均匀的样品的反射和荧光光谱。

计算、显示不同区域的光谱（荧光 · 反射）

显示分离图像（荧光 · 反射）

对拍摄到的图像进行反射光成分图像与荧光成分图像分离

利用AI光谱图像处理算法，将拍摄的图像分离为反射光成分和荧光成分图像。结果，反射光成分图像显示为橙色，荧光成分图像显示为绿色。二者分别与反射光谱与荧光光谱的单色光一致。由此可知，此样品是橙色反射光和绿色荧光的混合，所以在白光下呈黄色。此外，通过反射图像和荧光图像可看出样品不同区域的光学特性（图像图案）差异。放大图像后可以看到，反射板的微细结构存在规律的间隔，其间隔宽度是200 μm。

上市时间：2019年10月
创新点主要有两个方面：硬件方面：全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起，能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面：运用了智能光谱算法，可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号，得到的是一条荧光光谱，这个新的系统能够对样品表面进行分区，从而获得不同区域的光谱信号，使得光谱信息细致化了。

一、荧光分布成像系统（EEM View）简介

       作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

二、  荧光分布成像系统特点：

    1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）

在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用先进的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)

2.  样品安装简单，适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

丰富的样品支架

支持精确测量的校正工具

荧光分布成像系统是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。

【技术特点对用户带来的好处】-- 日立荧光分布成像系统EEM View

【典型应用举例】-- 日立荧光分布成像系统EEM View