梅特勒-托利多微量分析天平 XPE105

梅特勒XPE新超越系列天平：

梅特勒XPE105分析天平技术参数：

量程:120.0g,可读性:0.01mg,zei小称量值：14.0mg，重复性：0.015mg，线性误差（典型值±）0.1mg

梅特勒XPE105分析天平独特的性能：

StaticDetect™静电检测和静电消除技术，加上先进的SmartGrid网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。创新型StatusLight™天平就绪指示灯以及利用TestManager™测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。