Titan Themis TEM透射电镜

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FEI透射电镜TEM, 轻松获取原子信息。出色的性能，更快获取结果；出色的 S/TEM 图像质量；强大的分析能力......

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技术特点

【技术特点】-- Titan Themis TEM透射电镜

Titan Themis

用于原子二维和三维分析的高通量亚埃级成像

轻松获取原子信息。

使用 FEI Titan™ Themis 可轻松获取原子信息。Titan Themis 集经过验证的球面像差 (Cs) 校正器、单色仪系统和灵敏的 ChemiSTEM™ 技术与全新增强压电载物台、FEI Velox™ 软件及 FEI Ceta 1600 万像素CMOS 相机于一身，能够提供zei快速的导航和瞬时缩放，从而将从介观长度尺度到原子长度尺度的细节关联起来。

出色的性能，更快获取结果。

Titan Themis 的核心是 FEI功能强大的全新 Velox 软件。Velox 具备多信号检测能力，zei多可同时检测 4 个信号，从而能加快扫描透射电子显微技术 (S/TEM) 成像。此外，它也支持新的应用，如开展微分相位衬度 (DPC) 成像，研究内禀磁场和内禀电场，甚至是在原子之间从事这项研究。除了业内领先的 100,000 谱/秒 EDS 数据采集能力，它还能在高达1000 谱/秒的速度下，同时采集能量扩散谱 (EDX) 以及电子能量损失谱 (EELS) 数据，从而迅速洞察化学性质和键合状态。由于使用 Velox 可更快地获得结果，过去获得二维数据所需的时间现在能获取三维数据。

出色的 S/TEM 图像质量。

通过新的实时漂移校正帧成像 (DCFI) 智能扫描技术，FEI Velox Capture 软件以及 Cs校正光学部件能够产生出色的图像质量。此技术可以与Titan Themis 的递归化学成像功能相结合，然后对采集的全部数据集进行后处理。

强大的分析能力。

利用 FEI Velox 脚本引擎，加强量化分析能力。脚本引擎可与研究领域广泛使用的 CPython 编程语言配合使用，从而更轻松、更可靠地开展数据挖掘。

透射电子显微镜

Titan Themis 材料科学应用

快速、准确且量化的多维材料表征

FEI 的像差校正 Titan Themis 扫描透射电子显微镜 (STEM) 集经过验证的光学部件和出色的 XEDS 性能与功能强大的软件、1600 万像素 CMOS 镜头以及增强的压电工作台于一身，能够快速、轻松地获得原子级信息。Titan Themis 材料科学应用的优势包括：

采用具有多信号检测功能和 Cs 校正光学部件的新 Velox™ Capture，能够以zei快的速度产生zei高质量的数据
基于新的实时 Velox DCFI 智能扫描技术，获得zei佳的 STEM 图像质量
利用 Velox DPC 多信号扫描技术，实时测量内磁场和内电场
利用全新 4k x 4k Ceta 16M 瞬时缩放镜头，以zei快的速度从介观长度尺度导航至原子长度尺度
利用支持 CPython 的 Velox Scripting，轻松获得量化分析数据。

zei快的发现速度

过去已臻至佳，如今更进一步。Titan Themis TEM 基于经过验证的 Cs 校正 Titan 平台而构建，旨在提供zei快的数据产生时间和zei好的 S/TEM 图像质量，从而快速获得清晰的原子级图像。凭借全新的 Velox™ 软件、压电工作台和 Ceta 1600 万像素镜头，Themis 可以为当今的研究人员提供所需的功能和速度，使之在科学发现的zei前沿取得成功。

快速、同步采集 EDS 和 EELS

通过结合 1000 光谱/秒的同步 EDS/EELS 数据收集速度和 100,000 光谱/秒的极高速 EDS 数据采集，快速获得补充性分析信息，掌握新的化学洞察，发现键合状态。

显示 Sc 和 Ti 元素分布的 GdScO3/SrTiO3 界面原子级分辨率化学图。EELS 信号（左）和 EDS 信号（右）同时以 500 sp/s 的速度和 256 x 256 的像素进行采集（总采集时间：2 分钟）

样品提供者：德国 Ernst Ruska Centrum 的 M. Luysberg 博士

zei佳的 STEM 图像质量

右侧图像（使用新 Titan Themis 采集）显示 [112] 取向的原子级分辨率 GaN，其中各个 Ga 原子列被完全而不受干扰地分离（分离距离为 0.063 nm），这源于全新 Velox DCFI 智能扫描技术的支持。

512 x 512 原子级分辨率 GaN 图像（[112] 取向，16 f/s）

[112] GaN 放大图像显示 GaN 哑铃结构以 63 pm 的距离相互分离

显示所有方向上 ˂70 pm 分辨率的左图像功率谱

实时测量内磁场和内电场

利用新的 Velox DPC 多信号扫描技术，Titan Themis 可以实时测量研究样品的内磁场和内电场。此图像显示了原子级分辨率的 GaN 内电场。

Themis TEM

Based on FEI's Titan S/TEM platform – introduced in 2005 – the Themis TEM family forms the next generation of the world's most powerful, commercially available suite of S/TEM solutions for Materials Science, with Themis Z and Themis ETEM.

The FEI Themis transmission electron microscope (TEM) starts with our revolutionary wide high-tension range and corrector-ready platform, combined with a wide pole piece gap delivering the space to do more. Developed with stability and flexibility in mind, the Themis TEM high performance continuously enables atomic scale discovery and exploration. Combining these proven optics with new, breakthrough scanning transmission electron microscope (STEM) imaging capability and enhanced automation software enables ultimate imaging and analysis performance for all materials scientists.

Themis TEM for Materials Science

FEI's aberration-corrected Themis Z scanning transmission electron microscope (S/TEM) combine's proven optics and new, breakthrough S/TEM imaging capability with enhanced automation software to put the ultimate imaging performance in the hands of all materials scientists. Complimented by our unique EDX portfolio the Themis Z S/TEM delivers the best all round atomic characterization data in a single tool with a single objective lens configuration. .

The Themis ETEM is our dedicated Environmental TEM platform designed for observation of functional nanomaterials and their time-resolved response to gas and temperature stimuli. With a unique differentially pumped objective lens, the specimen area becomes an experimental chamber for study of catalyst particles, nanodevices and other materials, enabling atomic-scale insight to morphology and interactions at surfaces and interfaces. And when needed, the Titan ETEM can perform as a standard S/TEM for atomic scale imaging.