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Titan Themis TEM透射电镜

tel: 400-6699-117 8899

FEI透射电镜TEM, 轻松获取原子信息。出色的性能,更快获取结果;出色的 S/TEM 图像质量;强大的分析能力......

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技术亮点 :

· 可选超稳定、高亮度肖特基场发射电子枪(X-FEG,更多详情请参见单独的产品数据表)

· 全新三透镜聚光器系统可量化指示照明区域会聚角和大小,从而量化衡量电子剂量和照明条件

· 灵活的高电压范围 :Titan Themis 300 和 Titan Themis³300 :60 至 300kV(60、80、120、200、300kV);Titan Themis 200 :80 至 200kV(80、120、200kV)

· 电子枪单色仪可实现高能量分辨率 EELS 以及更高的空间分辨率,尤其在低 kV HR-S/TEM 下

· STEM 和 TEM :Titan Themis 300 和 Titan3 Themis 300 :在 STEM 和 TEM 中zei高可达 70pm 性能 ;Titan Themis 200 :在 TEM 中具有 90pm 性能,在 STEM 中具有 80pm 性能

· 使用环境罩时,Titan3 Themis 的室内声音和温度变化要求可以放宽。

· 拥有zl的模块化镜筒设计可以为镜筒中的低励磁偏转器打造精确的机械叠层系统,zei大限度降低由电子噪声带来的不稳定性。

· 在模式切换过程中 ConstantPower™ 透镜设计具有极佳的热稳定性

· 低磁滞设计可zei大限度减小光学组件间的串音,实现极佳的可再现性

· Ruska-Rieke S-Twin 对称物镜,5.4 mm 宽极片间距设计,以及可以使用加热、冷却和 STM/AFM 支架等特殊支架的“多用途空间”

· 物镜背部焦平面中的物镜孔隙非常适合开展 TEM 暗场应用工作

· 现场可升级,加装探针 Cs 校正器

· 自动孔隙支持远程控制操作,而且改变孔隙期间可调用孔隙位置,具有极佳的可再现性

· 无旋转成像,让操作更轻松,并能清晰呈现图像与衍射平面之间的方位关系

· 用计算机控制的全新 5 轴样品压电载物台,支持精确调用存储位置,在搜索目标区域时跟踪访问过的区域,并具有超稳定、深亚埃分辨率以及低样品漂移

· 全新压电载物台可实现精确到 20pm 的移动,以便将目标观测特征置于视场中央。

· 压电载物台提供的线性漂移补偿功能可用于减轻热漂移造成的限制,因为在原位加热或冷却实验中热漂移不可避免。

· 分析用双倾斜样品架具有 ±40 度的倾斜范围,支持观测多晶材料中某个晶体的多个晶带轴。倾斜范围高达±75 度的立体成像样品架,可zei大限度减少三维重构中的图块缺失

· 全新冷阱设计,zei多可使用一周,从而zei大限度提高正常运行时间

· Lorentz 模式下的无场成像在开展磁性研究时支持 2nm分辨率

· Lorentz 下专门定制的 Cs 校正无场成像可在开展磁性研究时支持 1nm 以下的分辨率

· TrueImage™ Atlas Focus 系列软件可用于量化 HR-TEM应用(更多详情请参见单独的产品数据表)

· Xplore3D™ 软件支持开展自动化立体成像 S/TEM 实验,而 Xplore3D Xpress 可用于超快三维重构(更多详情请参见单独的产品数据表)

· 全新的完全数字化系统支持使用 SmartCam 套件执行远程控制操作

· 全新 Velox SW 可通过光学模式设置下直观、简单的工作流实现快速、可再现的操作,而各种采集和分析检测器可快速提供成功结果

· Velox SW 采集速度快,而且zei多可同时采集四个STEM 信号

· 提供新的选择,可使用智能扫描技术在 STEM 中获得高质量图像

· 微分相位衬度 STEM 技术 (DPC) 可实时测量内禀磁场和电场

· 使 用 Super X 选件和 Velox,再结合 Gatan Ultrafast EELS 或 DualEELS 选件,可获得高达 1000sp/s 的同步EDS 和 EELS 数据采集

· 在超快 EDS 采集期间,Velox 分析可实时识别峰值并适应背景


EDX 微量分析选件 :

· Super-X :基于 SSD 技术(拥有zl)的高灵敏度、无窗 EDX 探测器

· 输出计数率 :zei高 200 kcps

· 能量分辨率

· Mn-Kα 和 10 kcps 时 ≤136 eV(输出)

· Mn-Kα 和 100 kcps 时 ≤140 eV(输出)

· 0.7 srad 立体角

· 120 mm² 组合探测器区域

· 快速面扫描 :像素驻留时间短至 10 µs

· 高 P/B 比(Fiori 数)> 4000

· 出色的孔内性能(< 1% 孔计数)

· EDX 中的低系统背景(< 1% 伪峰)

· 探测一直到硼的所有元素


探测器 :

· HAADF 探测器

· 轴上三重 DF1/DF2/BF 探测器

· Ceta 16M 相机

· Gatan US1000/US4000 相机

· Gatan 能量过滤器系列

样品架 :

· 单倾斜样品架

· 双倾斜样品架

· 立体成像架

· 请索取功能样品架列表



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地址:上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路399号8号楼

电话:400-6699-117 转 8899

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