台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - PCB/半导体/电子行业应用
tel: 400-6699-117 转 1000日立在线测厚仪, 优化的微聚焦硬件和直观的用户界面,简化了常规分析,提高了产出,使用“一键式”操作可确保最简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱,获得定制的校准和探索未知的材料。
在线客服
产品型号:PCB/半导体/电子行业应用
品牌:日立
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:日立
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2013-06-10
英文名称:PCB/半导体/电子行业应用
优点:优化的微聚焦硬件和直观的用户界面,简化了常规分析,提高了产出,使用“一键式”操作可确保最简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱,获得定制的校准和探索未知的材料。
参考成交价格: 1~50000元[人民币]
仪器导购
其他推荐
厂家资料
地址:杨先生
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
经销商 | 电话 | 咨询 |
---|---|---|
上海秦治实业有限公司 | 400-6699-117 转 1000 | 向他咨询 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 14112-1993 半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架规范
- GB/T 40730-2021 无损检测 电磁超声脉冲回波式测厚方法
- NF A91-114:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法
- BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- TSG Z7004-2011 特种设备型式试验机构核准规则
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- DS/EN ISO 9220:1995 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- NF A91-108:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
- XP T30-129*XP CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚