日立扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM参数

日立高新技术公司

• 型号Nanocute/E-SWEEP
• 中文简称Nanocute/E-SWEEP 原子力显微镜
• 英文简称Nanocute/E-SWEEP atomic force microscope
• 产地日本
• 上市时间2011年

日立高新技术公司

• 型号AFM5300E
• 中文简称日立5300E环境多功能原子力显微镜
• 英文简称AFM5300E
• 产地日本
• 上市时间2016年1月19日

日立高新技术公司

• 型号AFM5100N
• 中文简称日立5100N通用多功能原子力显微镜
• 英文简称AFM5100N
• 产地日本
• 上市时间2016年6月21日

日立高新技术公司

• 型号AFM5000II/RealTune®II
• 中文简称日立扫描探针显微镜控制器
• 英文简称AFM5000II/RealTune®II
• 产地日本
• 上市时间2015年

日立高新技术公司

• 型号AFM5500M
• 中文简称日立 AFM5500M全自动型原子力显微镜
• 英文简称AFM5500M AFm
• 产地日本
• 上市时间2016年

日立高新技术公司

• 型号AFM100
• 中文简称AFM100
• 英文简称AFM100
• 产地日本
• 上市时间2021年6月16日

日立高新技术公司

• 型号AFM100 Plus
• 中文简称AFM100 Plus
• 英文简称AFM100 Plus
• 产地亚洲
• 上市时间2021年06月