X射线荧光光谱法测定土壤样品中的24种主次量及痕量元素
近年来随着国家对矿产资源调查工作的进一步重视和投入的不断加大，地质行业得到了飞速发展，作为基础地质调查工作的多目标区域地球化学调查项目顺势启动。地质实验测试工作作为地质工作的“眼睛”，在多目标区域地球化学调查项目中发挥着关键的技术支撑作用。同时，它也面临着重大的机遇和挑战，要求分析测试工作具有更高的精密度和准确度，以满足区域地球化学编图、环境监测及土壤中元素含量变化研究的需要。为了确保地质实验测试工作质量，建立了以X射线荧光光谱、等离子体全谱/质谱、原子吸收光谱、发射光谱、原子荧光光谱等大型仪器分析方法为主体、符合我国地质分析实验室实情的配套分析方案。前人的研究成果证明，X射线荧光光谱法（XRF）利用分析仪器的高自动化，快速的分析速度，良好的重现性特点十分突出。同时，该方法非常适合样品的多元素同时分析测定，在样品前处理方面，制样简单环保，具有非破坏性。该分析手段现在广泛应用于地质、冶金、化工、水泥等领域。特别是在化探扫面等地质样品分析中得到了广泛的应用。为了充分发挥X射线荧光光谱分析在国土资源大调查中的作用，我们尝试用粉末压片制样，在新一代仪器上开展多个项目的分析。通过对X射线荧光光谱法的研究，建立分析方法，确定测量条件，选择标准样品，测量数据并对其检出限、精密度、准确度进行分析。研究结果表明，测量结果准确，各项指标均达到了行业要求标准（《地质矿产实验室测试质量管理规范》）。该方法可测组分多，试剂用量少，分析时间短，劳动强度低，易于流程操作，适于基体成分复杂的地球化学勘查样品的分析要求，并可为其它岩矿样品中相关组分的分析提供借鉴。此方法已应用于我单位区域地球化学调查项目的元素分析，数据准确、可靠，成图效果良好。
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