X荧光分析基体效应校正研究及在水泥工业中的应用
水泥生产企业需要对原材料、燃料、生料、半成品、熟料及水泥成品的化学成份进行分析,确保水泥生产的质量要求。X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点,正好满足水泥生产过程中化学成份快速准确分析的要求,是现代化水泥生产企业最重要的成份分析仪器。在X射线荧光分析中,由于基体效应的存在,使得分析元素的浓度和实测计数率并不严格成正比,这就需要对基体效应进行校正后才能准确定量分析。传统的经验系数法需要较多的基体相似的系列标样,已不能满足水泥生产过程中对熟料样品的分析的需要,其它生产、科研上也对少标样、无标样分析有了更大的需求。国外一些著名的企业生产的荧光仪已经可以选配少标样、无标样分析软件,本人参考了国外众多相关资料,在深入研究传统的基体效应校正方法的基础上,根据水泥工业分析的特点,独创性的提出变动理论影响系数法。采用C++语言开发了三种基体效应校正方法软件(基本参数法、单标理论影响系数法和变动理论影响系数法)。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料系列标样(GSB08-1110)进行了测试,对比了各种方法对基体效应的校正效果,并探讨了标样数量对测量精度的影响。实验表明,采用作者开发的程序,使用两个标样就可以获得很高的分析精度,使水泥熟料样品少标样分析成为可能。
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