多相体系银焊条的X射线能谱定量分析
稀土银焊条属多相体系,它由低含量微细稀土氧化物弥散分布在银基体中所组成。文献[1][2]提出的多相体系样品电子探针定量分析法均由样品面扫描谱获得实验数据,对焊条中低含量的第二相元素,其峰强很低,实验误差大。因在银焊条中:基体对第二相各元素无荧光效应;基体对第二相各元素的质量吸收系数相近,第二相各元素特征x射线穿出基体时相对强度的变化可忽略,故基体、第二相之间的相互作用可忽略,宜用Russ法 。
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