扫描探针显微镜及其在纳米结构材料表征中的应用
扫描探针显微镜(scanningprobemicroscopy,SPM)是纳米材料表征中最常用、最有力的工具.该文利用STM和AFM作为有利的工具研究了纳米结构粒子和纳米结构薄膜,该文主要包括以下几部分。
第一，对纳米结构材料的研究做了简单的介绍,并以STM为例对扫描探针显微镜家族的原理和应用进行了文献综述.
第二，介绍了影响扫描探针显微镜分辨率针尖卷积、扫描器非线性等各种因素.然后介绍了采用软件和硬件两种办法可以尽量消除以上因素的影响.
第三,针对α-Fe<,2>O<,3>纳米粒子和纳米结构薄膜进行了系统研究.研究了溶液浓度、温度、pH值对氧化铁纳米粒子颗粒形貌、尺寸的影响.首次得到单个氧化铁粒子是以一个粒子为晶核通过溶解=重结晶过程生长的.
第四，用化学方法可以制备稳定分布均匀的纳米银颗粒;对"单宁"法和"NaBH<,4>"法制取纳米、银胶胶体研究.第五昌研究了溅射法制备银纳米结构薄膜中,银纳米粒子的早期生长行为,提出了生长的动力来自颗粒暑聚时表面悬键减少的产生的能量,针对银纳米粒子的早期生长形状的变化提出了一相模型.研究了直流溅射制备的纳米结构银薄膜的光学、电学特性.研究了低能Ar<'+>溅射对银纳结构薄膜微观结构的影响.
推荐
-
焦点事件
