X荧光光谱半定量分析原理
经验系数法：经验系数法是最古老和最常用的计算方法，它用经验来确定系数，以表示一种元素对另一种元素的基体效应。甚至不经数学证明，就能直观地理解基体中元素i的谱线强度与共存的其他各素的含量间具有一种单值的函数关系。通过几组具有相同基体构成（元素或元素氧化物，但含量不同），已知各组分含量的标样，通过联立方程式，解矩阵得出这个单值的函数关系（由计算机程序计算得出）。经验系数法在某些情况下应用比较简便，对于试样品种有限的重复件分析（比如冶金、水泥工业中的品质控制）用经验系数法比较适宜，且能获得良好的结果。基本参数法：目前大多数的“XRF无标（样）定量软件”的数学模型和定量原理都是基于“基本参数法”。与经验系数法相反，基本参数法是以试样均匀，厚度较大和表面平滑为(假设)条件。不假设以单一的平均波长表示入射光谱，而以一定的靶材和一定的操作电压下，测得的—次辐射的光谱分布表示之。基体参数法的数学模型是基于加权平均算法和迭代算法，随着更多的校正因子的加入，利用迭代运算，基本参数法的分析结果与实际值的偏差有时候可以非常接近了甚至可能已经小于仪器本身的误差范围，所以部分软件公司已经声称他们推出的新软件是“无标（样）定量软件”。
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