“国际化学年在中国”会议开幕式
岛津公司大型仪器市场部 龚沿东研究员做了题为《使用MEM方法进行元素分布重构的XPS无损深度剖析技术》的大会报告。他介绍了岛津/KRATOS
高性能成像X射线光电子能谱仪 AXIS-ULTRADLD
加配无损深度剖析重构软件，能够在不使用离子源对样品进行刻蚀的情况下分析样品的表面深度信息结构，目前该软件的用户已经在国际知名杂志上发表了数篇出色研究成果。此外，配置Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C24H12离子源可实现不改变有机材料化学状态的深度剖析，避免以往Ar离子源刻蚀导致有机材料化学状态改变的弊端。
岛津市场部 龚沿东研究员 做大会报告