扫描电镜和X射线能谱仪对金刚石聚结体显微结构的分析
利用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）及ｘ射线能谱仪（ＥＤＸ）对金刚石聚结体的显微结构和成分进行了分析，包括：（１）金刚石的晶形、密堆积和粒度配比；（２）粘结剂的种类、分布、渗透和对金刚石的包覆情况；（３）硬质合金基座和聚晶层之间的结合情况；（４）聚结体内部裂纹和含杂质情况分析。说明这一方法是非常必要的，它是聚结体合成前用料监测、合成后质量评估和性能检测中不可缺少的工作。
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