影响X荧光光谱仪准确度的因素（二）
3、样品表面的影响、
样品表面暴露在空气中被氧化，而X荧光光谱仪为表面分析方法，可能会导致样品分析结果随时间增长呈不断增高的趋势。测量前应先将氧化膜磨掉，样品表面的光泽程度对分析结果的影响也较大，样品表面不光滑，凸凹不平，都会影响测量结果，所以应尽量将表面磨平整。
4、干扰元素的影响
虽然X射线荧光光谱比较简单，绝大部分是单独的谱线，但在一个复杂的样品中，谱线干扰仍是不可忽视的。有时甚至会造成严重的干扰。由于干扰元素存在，进行分析样品时干扰元素的谱线与待测元素的谱线有重合，造成测得的强度偏大，给分析结果带来偏差。一般地，看元素谱线的干扰并不是太困难的，首先要了解一些常见的、易干扰元素的谱线位置以及干扰的情况，在对样品的测试图谱进行判断时，很关键的一点是，如果有某种元素存在。那么它应该有多个位置的、多条谱线同时存在。看两条以上的谱线，例如Pb，需要看PbLa和PbLbl这两条。如果Pb元素真的含有，则两条谱线都会有比较明显的波峰出现。如果Pb元素真的含有并受到其它元素的干扰而造成了偏大，则两条谱线都会出现波峰，但是两条谱线所测试出来的结果会相差比较大。克服的方法有：避免干扰线，选用无干扰的谱线作分析线。适当地选择仪器测量条件，提高仪器的分辨本领，降低X光管的管电压至干扰元素激发电压以下，防止产生干扰元素的谱线，进行数学校正，现代仪器上都有数学校正程序。
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