布鲁克推出全新XR系列SPM 拓展纳米材料表征界限
分析测试百科网讯 近日，布鲁克宣布推出Dimension XR™系列扫描探针显微镜（SPM）。新系统主要是AFM系统方面创新，包括布鲁克独有的DataCube纳米电子模式，用于能源研究的AFM-SECM，以及全新的AFM-nDMA模式，该模式首次将聚合物纳米力学与体动力学机械分析（DMA）相关联。目前，Dimension XR SPM有三种配置，分别针对纳米力学，纳米电子和纳米电子化学应用进行了优化，并且这些系统扩展了研究人员在空气，流体，电气和化学反应环境中量化纳米级材料特性的能力。
“新发布的Dimension XR系统是布鲁克多年创新的结果”布鲁克AFM业务执行副总裁兼总经理David V. Rossi表示， “我们的目标是让研究界广泛使用XR系列扫描探针显微镜，通过新的纳米级信息实现其突破性AFM发现。”
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