质谱分析法术语--二次离子质谱法
二次离子质谱法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）
采用二次离子质谱仪进行质析的方法，该法依赖于所用不同二次离子质譜仪，可划分为四极杆二次离子质（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辩二次离子质谱仪（ high resolution two ion mass spectromete）、双聚焦二次离子质谱法 （double focusing secondary ion mass spectrometry）和时间飞行二次离子质谱法（TOF seoondary ion mass spectrometry）。根据分析对象和测量目的的不同，该法可进行表分分析、深度部析、成像和同位素精确测量，获取元素成分、同位素丰度、物质结构等多种信息。
热电离质请法（ thermal ionization mass speetrometry，TIMS）原子或分子在高熔点、高功函数金属带或金属丝的热表面产生原子离子或分子离子的现象称为热电离；采用热电离原理造的离子源与质量分离器、离子探测器组建成热电离质谱仪；
使用热电离质谱仪测量元素同素丰度、同位素丰度比等量的方法通常称作热电离质谱法（TIMS）。因为热电离可以产生正离子或负离子，客观上也存在正热电离质谱法（ PTIMS）和负热电离质谱法（NTMS）。目前广泛使用的热电离质谱法是表面电离质谱法。热电离质谱法测量的离子能量发散小、测量值精度高普用于核科学、核工业、同位素地质、同位素地球化学，基础科学等领域。热电离质谱法与同位素稀释、同位素示踪相结合建立的同位素稀释质谱法、同位素示踪法，是微量、痕量元素测量的最佳方法。
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