质谱技术中常用术语及其缩写
EI: Electron Impact 电子轰击
CI: Chemical Ionization 化学电离
FAB: Fast Atom Bombardment 快原子轰击
LSIMS: Liquid Second Ion Mass Spectrometry 液体二次离子电离
ESI: Electrospray Ionization ( Nano ESI ) 电喷雾 （纳升喷雾）
TSI: Thermospray Ionization 热喷雾电离
PD: Plasma Desorption 等离子体解吸
FD: Field Desorption 场解吸
FI: Field Ionization 场电离
LD: Laser Desorption 激光解吸
MALDI: Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization 基质辅助激光解吸电离
API: Atmosphere Pressure Ionization 大气压电离
APCI: Atmosphere Pressure Chemical Ionization 大气压化学电离
Q: Quadropole 四极杆
IT: Ion Trap 离子阱
FT-ICR: Fourier Transform – Ion Cyclotron Resonance 傅里叶变换离子回旋共振
TOF: Time Of Flight 飞行时间
SM: Sector Magnetic 扇形磁场
MS-MS: Mass Spectrometer – Mass Spectrometer ( tandem MS) 质谱质谱（多级质谱）联用
MCP: Micro-Channel Plates 微通道板
AD: Array Detection 阵列检测器
