质子激发X射线荧光分析的简介
利用原子受质子激发后产生的特征 X射线的能量和强度来进行物质定性和定量分析的方法。简称质子 X射线荧光分析，英文缩写为PIXE。质子X 射线荧光分析是20 世纪70 年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16 克，相对灵敏度可达10-6～10-7 克/克。原则上可分析原子序数大于13 的各种元素。80 年代前期，可实际测定的元素有：自铝至铈（氩、氪、氙、锝、钯和碲除外）、自钽至铋（铼、锇、铱除外）、钍和铀，有的设备还可分析镁和硼，共可测52 种元素。
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