X射线能谱和FTIR分析铜胁迫对玉米幼苗的影响
应用X射线能谱和傅里叶变换-衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)分析方法结合一些生理指标的变化及幼苗叶片下表皮扫描电镜观察,研究一定浓度(0、200、400、800、1000mg.kg-1)Cu2+胁迫对玉米幼苗的影响。结果表明,随着Cu2+浓度增高,叶绿素含量呈下降趋势,抗氧化酶(SOD、CAT、POD、APX)活性均先升高后降低。利用SEM及X射线能谱检测玉米表面发现,高浓度的Cu2+胁迫会使玉米叶片细胞扭曲、拉长,而且细胞表面铜元素含量升高,并影响其他营养元素的吸收。铜处理导致幼苗叶片3338cm-1、2918 cm-1、2849 cm-1及1377 cm-1吸收峰强度较对照增强,整体呈现先升后降的趋势。
推荐
