X射线衍射仪中粉末样品为什么要转动
为了能增大衍射强度，衍射仪法中采用的是平板式样品，以便使试样被X射线照射的面积较大。这里的
关键：
一方面试样要满足布拉格方程的反射条件。
*另一方面还要满足衍射线的聚焦条件，使整个试样上产生的x衍射线均能被计数器所接收。
在理想的情况下，x射线源、计数器和试样在一个聚焦圆上。对于粉末多晶体试样，在任何方位上总会有一些(hkl)晶面满足布拉格方程产生反射，而且反射是向四面八方的。但是，那些平行于试样表面的晶面满足布拉格方程时，产生衍射，且满足入射角=反射角的条件。由平面几何可知，位于同一圆弧上的圆周角相等，所以，位于试样不同部位M，0，N处平行于试样表面的(hkl)晶面，可以把各自的反射线会聚到F点这样便达到了聚焦的目的。在测角仪的实际工作中，通常x射线源是固定不动的。计数器并不沿聚焦圆移动，而是沿测角仪圆移动逐个地对衍射线进行测量。因此聚焦圆的半径一直随着2θ角的变化而变化。
在这种情况下，为了满足聚焦条件，即相对试样的表面，满足入射角=反射角的条件，必须使试样与计数器转动的角速度保持1：2的速度比。
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