原子发射光谱（ICP/AES）理论知识（13）——半定量分析
光谱半定量分析
光谱半定量分析的依据是，谱线的强度和谱线的出现情况与元素含量密切相关。
常用的半定量方法有谱线黑度比较法和谱线呈现法等。
1 谱线黑度比较法
将试样与已知不同含量的标准样品在相同的实验条件下，在同一快感光板上并列摄谱，然后在映谱仪上用目视法直接比较被测试样与标准样品光谱中分析线的黑度，若黑度相等，则表明被测样品中欲测元素的含量近似等于该标准样品中欲测元素的含量。
该法简便易行，其准确度取决于被测样品与标准样品基体组成的相似程度以及标准样品中欲测元素含量间隔的大小。
2 谱线呈现法
当样品中某元素的浓度逐渐增加时，该元素的谱线强度增加、谱线数目增多，灵敏线、次灵敏线、弱线依次出现。用预先配制一系列浓度不同的标准样品，在一定条件下摄谱，然后根据不同浓度下所出现的分析元素的谱线及强度情况绘制成一张谱线出现与含量的关系表（即谱线呈现表），再根据试样的某一谱线是否出现来估计试样中该元素的大致含量。
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