扩展X射线吸收精细结构的技术原理及结构特点
技术原理
在吸收限的高能一方，吸收系数随光子能量的增加而单调下降。但是假如我们用高分辨率谱仪作细致的观察，我们将发现，除了简单的单原子体系，在吸收限的高能一方，吸系数随光子能量的增加一般呈周期性的变化，我们把吸收限附近一块放大，就得到所谓的扩展X射线吸收精细结构。
结构特点
扩展X射线吸收精细结构，英文eXtended X-ray absorption finestructure（EXAFS），其特点是：入射到样品后透射的Xα光、出射的荧光或光电子都产生扩展X射线吸收现象；扩展X射线吸收现象决定于短程有序作用，不需要长程结构，可得到吸收原子邻近配位原子的种类、距离、配位数、无序度因子；X射线吸收边具有因子特征，可以调节X射线的能量，对不同元素的原子周围环境分别进行研究；利用强X射线或荧光探测技术可以测量几个微浓度的样品；可用于测定固体、液体、气体样品，一般不需高真空，不损坏样品。采用能量色散技术，一个扩展X射线吸收谱可在几个微秒内完成，能用于跟踪物质的制备和反应过程，直接给出动力学信息。
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