用（STM）或（AFM）观察一种新矿物Au2Te ,得到什么结果
扫描隧道显微镜亦称为“扫描穿隧式显微镜”、“隧道扫描显微镜”，是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁（G．Binning）及海因里希·罗雷尔（H．Rohrer）在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，两位发明者因此与恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。
扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）统称为扫描探针显微镜（SPM），用STM和AFM观察一种新矿物Au2Te，如果样品满足实验要求（样品表面的粗糙度/起伏不超过5微米）的话，都可以在微纳米范围（几十微米至几十纳米）得到样品表面的形貌。
只是两者：STM和AFM所不同的是，STM要求样品表面必须导电，所以在非导电样品表面通常需要喷金、银或者碳，你的新矿物样品如果要用STM检测的话，应该需要进行如此样品前处理；而AFM则无此要求，可以直接检测导电样品和非导电样品，所以其应用范围要比STM要大得多。
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