梅特勒-托利全新PAT技术 实时反映颗粒粒径、形状和浓度变化
近日，梅特勒-托利多公司（METTLER TOLEDO）展示了相对反射指数（RBI）技术。RBI技术是一种创新式PAT技术，旨在帮助科研人员研发、生产颗粒、晶体等，可实时显示粒子尺寸、形状和浓度变化。
不同于浊度测量方法，RBI技术是基于图像的趋势的测量方法，利用实时显微方法精确测定颗粒系统的反射系数，解决了灵敏度与解析处理的问题。RBI技术可以敏锐地实时反映出颗粒粒径、形状和浓度的变化，提供了一种简单有效地优化、控制复杂颗粒体系的解决方案。
RBI配置于梅特勒-托利多公司的采用PVM技术的ParticleView 19上。结合实时显微技术，RBI将极大降低使用难度并提供更多的有效信息，助力质量控制领域耗时的减少与成本的控制。
RBI技术的一般性应用包括：研究结晶过程中的溶解度与亚稳区范围问题、比较不同条件下的结晶速率、鉴别颗粒化过程的平衡态与反应终点、表征诸如二级成核、液滴融合、颗粒破碎等过程。
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