x射线荧光光谱仪材料辨识功能
x射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线荧光光谱仪检测技术的改进提高了检测速度。探测器技术及用于脉冲信号处理的电子学线路的迅速发展，在允许的死时间情况下，探测器接收光子的数量提高了1个数量级以上。
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。
X射线荧光的物理原理
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。
x射线荧光光谱仪材料辨识功能
测量开始后，可在短时间内（25秒以下）识别待测样品的材质。材料大体分为树脂（PE、PVC）、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚样品的材质，也无需为如何选择分析方法而困惑。
●材料辨识测量模式
识别待测样品的材料类型，自动选择推荐的分析方法
●材料辨识自动测量模式
识别待测样品的材料类型后，自动选择适合的分析方法进行测量，并显示结果。所有步骤实现全自动处理。
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