纳米压痕仪 工作原理

布鲁克PI 95透射电镜专用原位纳米力学系统

布鲁克, 布鲁克的PI 95 TEM PicoIndenter是第一台可在透射电子显微镜（TEM）内部直接观察纳米力学测试的成熟的深度感应压痕设备。PI 95同时可以定制和升级包括加热、电学和摩擦学等功能在内的选项，以实现现在和将来多方面的材料研究需要。

布鲁克NanoForce纳米压痕仪

布鲁克, 标配超低负荷能力、动态测试和原子力显微镜成像，并提供闭环控制以实现实验参数的zei优化。

是德Keysight G200纳米压痕仪 U9820A

是德科技, Nano Indenter G200 是用于纳米力学测试的zei精确、zei灵活、zei容易使用的仪器。 电磁驱动器具有极佳的力和位移动态范围，可测量 6 个数量级（从纳米到毫米）的变形。 其应用包括半导体、薄膜和 MEM（晶圆应用）；硬质涂层和 DLC 膜；复合材料、纤维和聚合物；金属和陶瓷；以及生物材料和生物学。

Nano Indenter G200纳米压痕仪

科磊半导体, Nano Indenter G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。 该系统是一个完全可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。

布鲁克TI 980 高精度纳米力学测试系统

布鲁克, 布鲁克TI 980高精度纳米力学测试系统是布鲁克公司研制的自动化、高通量的测试仪器，可以用来表征材料多项纳米力学性能，包括硬度、弹性模量、摩擦系数、磨损率、破裂韧性、失效、蠕变、粘附力（结合力）等力学数据。

布鲁克PI 88电镜专用原位纳米力学测试系统

布鲁克, 布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。

布鲁克Hysitron TI Premier纳米压痕仪

布鲁克, 布鲁克Hysitron TI Premier高精度纳米力学测试系统是布鲁克公司研制的自动化、高通量测试仪器，通过纳米级位成像，可实现压痕、划痕和磨损过程的纳米尺度原位可视化表征。Hysitron（海思创）应用其工艺领先的zl技术“三板电容传导”，从源头上保证了仪器稳定性和灵敏度。使用Hysitron（海思创）纳米力学材料检测系统通过探针可以获得材料微区的硬度、弹性模量、摩擦系数、磨损率、断裂刚度、失效、蠕变、粘附力（结合力）等力学数据。后续可选择升级模块有高温台、电学性能测试、湿度控制模块、冷台、与拉曼连用等。不仅在微纳米水平上开展力学行为特性的研究，还可以进行纳米尺寸上的机械加工。

MHT微米压痕仪

安东帕, 微米压入测试仪 (0.03 - 30N) 微米压入测试仪适用于硬质薄膜、软质薄膜和块体材料的测量。它为您提供精准与高重复性的材料硬度和弹性模量测试结果。 微米压入测试仪可以用于测量块状材料，PVD、CVD硬质薄膜和陶瓷薄膜等材料的性质。 瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括： 测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）； 界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ； 包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ； zei简便易用的膜厚测试仪； 用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

MST微米划痕仪

安东帕, 微米划痕测试仪(30mN - 30N) 微米级划痕测试仪被广泛应用于界定薄膜与基体的结合强度，薄膜厚度一般小于５微米。它还被用于分析有机、无机，软质和硬质薄膜的破坏形式。薄膜材料包括PVD, CVD, PECVD单层或多层薄膜，感光薄膜，彩绘釉漆，和其他应用于各种领域的薄膜，包括光学、微电子、保护性薄膜、装饰性涂层等领域。基体材料可以为硬质或软质材料，包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物、以及有机材料等。

布鲁克 PI 85L电镜专用原位纳米力学系统

布鲁克, 布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。