目前,对这种大型电子元器件检漏结果表明,它们的漏率一般在10-6-10-7Pa·m3/s范围内。 博为氦检相信,随着氦质谱检漏仪在这个领域广泛和深入的使用,很快将建立起本行业的检漏标准和方法。 背压法检漏 背压法检漏是将有一定压力的示踪气体的被检件放入检漏夹具中,然后连至检漏仪将其抽空,示踪气体通过漏孔泄漏出来,经检漏仪检测出总泄漏量。 小型电子器件宜采用这种检漏方法。...
但有一点应特别强调,被检工件的漏孔所处的检漏条件应与标准漏孔所处的检漏条件相同,这样它们在检漏仪上显示的电量才好进行比对,以计算工件漏率的大小。检漏技术与仪器的相关技术指标 随着航天技术的发展,检漏技术也在不断取得进步。目前比较成熟的检漏方法有喷吹法、氦罩法、充压法、吸枪法、探漏盒法、累积检漏法、背压法及四极质谱检漏法。各种方法都有其特点及适用条件。 ...
1、低充氦浓度氦质谱检漏的理论假设 以氦作为示踪气体的检漏中, 氦气在压差的作用下通过漏孔并经真空通道进入氦质谱检漏仪的质谱室逐渐建立起稳定的氦分压, 检漏仪通过质谱分析测出与氦分压线性对应的氦离子流信号, 离子流信号同标准漏孔( 漏率已知) 的校准信号作比对计算出漏率。...
在正压检漏时要以类似的距离和移动速度进行嗅探,然后用信号比对法判定大致漏率,这种方法可以较准确定位漏孔。必要时要进行压力、温度和浓度等修正。1.2.2、氦罩累积法 如果被检件漏率很小,直接用吸枪移动嗅探法得不到信号,必须用氦罩累积法。在正压检漏时,小被检件可以用氦罩整个罩住;大而复杂的被检件可用多个小罩局部罩住待检部位。...
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