DB53/T 421-2012
工业硅中硼的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

Determination of boron in industrial silicon by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry

工业硅中硼的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 不是强制性中国国家标准，您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 DB53/T 421-2012 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: DB53/T 421-2012
发布: 2012年
发布单位: 云南省地方标准
当前最新: DB53/T 421-2012

适用范围: 本标准规定了工业硅中硼的电感耦合等离子体发射光谱仪测定方法。本标准适用于工业硅中硼的测定，检测范围0.000 4%～0.017%。

DB53/T 421-2012相似标准

GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法第4部分:杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 DB64/T 1829.1-2022 宁夏“六新”产业高质量发展标准体系第1部分：新型材料 GB/T 13747.9-2022 锆及锆合金化学分析方法第9部分：镁含量的测定火焰原子吸收光谱法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 GB/T 13747.10-2022 锆及锆合金化学分析方法第10部分：钨含量的测定硫氰酸盐分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 GB/T 13747.18-2022 锆及锆合金化学分析方法第18部分：钒含量的测定苯甲酰苯基羟胺分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法

推荐

Plasma 3000型和Plasma 2000型电感耦合等离子体发射光谱仪测定工业硅中杂质元素含量

关键词Plasma 3000，Plasma 2000，工业硅，耐氢氟酸进样系统国家产品标准GB/T2881-2014《工业硅》中规定，检测工业硅中杂质元素采用电感耦合等离子体发射光谱仪测定。本实验参照标准GB/T14849.4-2014《工业硅化学分析方法第四部分：杂质元素含量测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》测定工业硅中铝、铬、钙、硼、铜、铁、镁、镍、锰、磷、钠、钛的元素含量。...

【华恒仪表冠名】173项国家标准批准发布多项标准与仪表行业相关

此次批准发布的173项国家标准中有多项仪器分析检测标准，如电感耦合等离子体原子发射光谱法、直流电弧原子发射光谱法、红外线吸收法等。仪表网整理如下。...

又一批国家标准批准发布

电感耦合等离子体质谱法2021/2/126GB/T 13747.3-2020锆及锆合金化学分析方法第3部分：镍量的测定丁二酮肟分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法GB/T 13747.3-19922021/2/127GB/T 13747.4-2020锆及锆合金化学分析方法第4部分：铬量的测定二苯卡巴肼分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法GB/T 13747.4-19922021...

555项拟立项国家标准立项在即涉光谱、色谱、质谱检测

、铁、硅、硼量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法推制金砷合金砷量测定电感耦合等离子体发射光谱法推制铑化合物化学分析方法第2部分：杂质元素的测定电感耦合等离子体发射光谱法推制钯化合物分析方法氯量的测定离子色谱法推制核级银-铟-镉合金化学分析方法推修稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法第1部分：镧中铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定推修稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法...

DB53/T 421-2012工业硅中硼的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法