CNS 5073-1988
单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–冲击试验

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Shock Test)

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标准号

CNS 5073-1988

发布日期

1988年06月14日

实施日期

1988年06月14日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01;19.040

发布单位

CN-CNS

适用范围

本标准规定由于粗心之操作、输送中及使用时，可能遭遇之强度冲击时，评估电子装置用单件半导体装置之构造性，机械之耐抗力为目的之试验方法。