60749-23 AMD 1-2011
AMENDEMENT 1 Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques – Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température (Edition 1.0)

AMENDMENT 1 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life (Edition 1.0)

AMENDEMENT 1 Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques – Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température (Edition 1.0) 是非强制性国家标准，您可以免费下载前三页

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标准号: 60749-23 AMD 1-2011
发布日期: 2011年01月01日
实施日期: 2011年04月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: /
国际标准分类号: /
发布单位: IEC - International Electrotechnical Commission
引用标准: 10

60749-23 AMD 1-2011AMENDEMENT 1 Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques – Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température (Edition 1.0)

AMENDMENT 1 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life (Edition 1.0)

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